Ce travail concerne le développement matériel et logiciel d'un banc de caractérisation temporelle d'enveloppe de dispositifs RF de puissance. Ce banc de mesure calibré vectoriellement a été développé afin de générer et de mesurer les enveloppes complexes associées à des signaux modulés RF aux accès de dispositifs de puissance sous test. Ce manuscrit décrit l'architecture du banc de mesure, sa procédure d'étalonnage ainsi que le traitement du signal utilisé pour la correction des mesures reliant les plans de mesure aux plans de référence du dispositif sous test. Une première application de ce banc est montrée par la mesure de critères de linéarité d'un amplificateur de puissance pour différents types de modulation et différentes impédances de charge. La seconde application consiste à utiliser une technique de modulation de polarisation afin de linéariser un transistor de puissance.