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A Smart Load-Pull Method to Safely Reach Optimal Matching Impedances of Power Transistors

• 4 juin 2007
• Authors : REVEYRAND Tibault , GASSELING Tony , BARATAUD Denis , MONS Sébastien , NEBUS Jean-Michel
• Conference : IEEE MTT-S
• Location : Honolulu,USA

Accurate characterization of intermodulation noise in multi carrier wide band power amplifiers based on a digital synthesis of pseudo noise gaussian stimuli

• June 2006
• Authors : REVEYRAND Tibault , BARATAUD Denis , NEBUS Jean-Michel , MALLET A. , GIZARD F. , LAPIERRE L. , SOMBRIN J.
• Journal : Annals of telecommunications
• N° : Vol. 61, No 5-6
• pp.627-644,

Banc de mesure temporelle d'enveloppe calibré pour la linéarisation des amplificateurs de puissance par prédistorsion numérique en bande de base

• 23 au 25/05/2007
• Authors : NANFACK-NKONDEM Grégoire , NEVEUX Guillaume , REVEYRAND Tibault , BARATAUD Denis , NEBUS Jean-Michel , MALLET A.
• Conference : 15eme Journées Nationales Micro-ondes (JNM)
• Location : Toulouse

Caractérisation temporelle de signaux multi-tons en utilisant l'analyseur de réseau fort signal (LSNA)

• 23-25 mai2007
• Authors : ABOU CHAHINE Mouhamad , EL YAAGOUBI Mohamed , NEVEUX Guillaume , BARATAUD Denis , NEBUS Jean-Michel , GIZARD F.
• Conference : 15 Journées Nationales Micro-ondes (JNM)
• Location : Toulouse

Time-domain envelope measurements for characterization and behavioral modeling of nonlinear devices with memory

• august 2006
• Authors : MACRAIGNE François , REVEYRAND Tibault , NEVEUX Guillaume , BARATAUD Denis , NEBUS Jean-Michel , SOURY Arnaud , NGOYA Edouard
• Journal : IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
• N° :

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