Publié le Mardi 04 Juin 13:22
Le département OSA d’XLIM organise un séminaire dédié à la Caractérisation des Matériaux le Jeudi 20 Juin 2013 de 9h à 12h en salle de conférences XLIM. Le programme prévisionnel est le suivant :
- 9h30-9h45 : Accueil.
- 9h45-10h30 : Dr. Allen F. Horn III, actuellement Associate Research Fellow à la Rogers Corporation Lurie R&D Center (Connecticut, USA), présentera une conference intitulée “Effect of conductor profile on the insertion loss, phase constant, and dispersion in thin high frequency transmission line" - Résumé
- 10h30-11h10 : Dr. Olivier Tantot, enseignant chercheur au département MINACOM d’XLIM, donnera une présentation intitulée « Material characterization methods @ XLIM »
- 11h10-11h40 : Mr. Georges Zakka El Nashef, actuellement doctorant au sein des départements C2S2 et OSA d’XLIM, présentera un séminaire intitulé « New base material characterization method to extract the relative permittivity using patch antennas »
- 11h40-12h00 : Discussion ouverte.
N’hésitez pas à diffuser largement cette annonce aux personnes susceptibles d’être intéressées…et venez nombreux !!!
Contact XLIM du séminaire : georges.zakka-el-nashef@xlim.fr