Vous êtes ici

Lotfi Ayari, lauréat du prix IEEE MTT-French Chapter 2015

Lotfi Ayari, PhD student  a reçu lors de la semaine EuMW2015, le IEEE MTT-French Chapter 2015 MTT-S Student Paper Award, remis par Philippe Descamps (Président du chapitre MTT France et Directeur du LaMIPS : Laboratoire de MIcroelectronique et de Physique des Semiconducteurs  commun à l’entreprise NXP Semi-conductors à Caen )

pour son papier présenté à la conférence ARFTG 2015 (IMS Conférence) :
An automatized time-domain set-up for on-wafer charaterization, doherty oriented, of high power GaN HEMT
(Ayari, L.; Ayad, M.; Byk, E.; Camiade, M.; Neveux, G.; Barataud, D., Microwave Measurement Conference (ARFTG), 2015 85th, Year: 2015, Pages: 1 - 4, DOI: 10.1109/ARFTG.2015.7162905, IEEE Conference Publication)

 

Encadrants : Guillaume Neveux et Denis Barataud du département C2S2.