Le domaine « Instrumentation Circuits » est un plateau technique qui regroupe un ensemble d’équipements de mesures hyperfréquences de pointe en allant des sources hyperfréquences aux outils de caractérisation associés.

En effet, le laboratoire XLIM possède des équipements et des bancs de mesures de dispositifs micro-ondes et sub-millimétriques permettant la caractérisation de composants, de circuits et de matériaux dans le domaine linéaire et non-linéaire. Ces équipements sont différents selon les gammes de fréquences des dispositifs à tester.

De plus, l’ensemble de ces équipements est impliqué dans de grands projets notamment en collaboration avec des grands groupes tels que Thales Alenia Space, CNES, CEA, DGA, UMS, NXP …

Equipements :

Mesures paramètre S 24 GHz

• VNA R&S ZVA24
• VNA AGILENT HP8720C 20 GHz
• Station sous pointes RF XLIM

Mesures paramètre S 40 et 67 GHz

• VNA R&S ZVA67
• VNA R&S ZVA40
• VNA  KEYSIGHT PNAX 50
• VNA AGILENT HP8510B 40 GHz
• Station sous pointe 1 RF CASCADE MICROTECH SUMMIT 9000

Mesures paramètres S millimétriques

• VNA KEYSIGHT PNAX 67
• VNA AGILENT HP8510C 170GHz
• 2 Convertisseurs mm VDI (75 - 110GHz)
• 2 Convertisseurs mm OML (110-170 GHz)
• 2 Convertisseurs mm VDI (140 - 220GHz)
• 2 Convertisseurs mm VDI (220 - 330 GHz)
• Station sous pointes RF mm CASCADE MICROTECH PM8

Mesures divers (Bruit NF 50 ohms, Gain compression, IP3, Microscopie, Bonding)

• VNA KEYSIGHT PNAX 67
• 2 Tuners Maury MT985AL (8 - 65 GHz)
• Tuner de source bande S
• Tuner de source bande X
• Tuner multi-harmonique
• Amplificateur RF AMCAD (6 - 18GHz)
• Amplificateur RF AMCAD (18 - 26 GHz)
• Amplificateur RF AMCAD (26 - 40 GHz)
• Amplificateur BONN ELECTRONIC (0,8 - 4,2 GHz)
• Amplificateur M2S (10MHz - 1GHz)
• Analyseur de spectre R&S (30 GHz)
• Analyseur de spectre R&S FSW (50 GHz)
• Analyseur de spectre Keysight MXA N9020B (44 GHz)
• Source RF R&S SMF100A 22 GHz
• VSG R&S SMW200A (40 GHz)
• Source RF Keysight MXG X-Series N5181B (6 GHz)
• Oscilloscope DPO7254 TEKTRONIX
• Microscope VHX-5000 KEYENCE
• Wire Bonder tpt HB16
• Wire Bonder Model 4526 ANTYCIP
• Microscope DHM R2100 Lyncée Tec
• Station sous pointe 2 RF CASCADE MICROTECH SUMMIT 9000

Prestations :

• Bancs de caractérisation de dispositifs micro-ondes en paramètres [S] jusqu’à 330GHz : mesures de dispositifs passifs (filtres hyperfréquences, MEMS RF, …) et actifs (transistors, LNA, amplificateurs, …).
• Caractérisation de matériaux diélectriques massifs ou en couches minces (plaques) : éprouvée depuis de nombreuses années, la méthode en cavité à fente permet de caractériser dans un très large domaine de fréquences des matériaux diélectriques à température ambiante ou en température.  Grâce à un ensemble de cavités de dimensions variées, la caractérisation de matériaux peut se faire aux fréquences pertinentes du secteur des télécommunications hyperfréquences de 2 GHz à 90 GHz.
• Caractérisation de résonateurs diélectriques par la méthode des cavités cylindriques (cylindres) : cette technique de caractérisation permet de remonter aux propriétés diélectriques (ɛ,tgδ) de matériaux sous forme de « pastilles » diélectriques