Cette contribution présente la conception et la réalisation de solutions d'auto-test (BIST : Built In Self Test) intégrées visant à réduire les coûts de test de production de circuits et systèmes radio-fréquences. L'efficacité des solutions conçues et fabriquées en utilisant une technologie BICMOS de NXP semi-conducteurs est démontrée pour différentes applications dont le test d'amplificateurs faibles bruit (typiquement le gain et le point de compression de IDB d'un LNA), de synthétiseurs de fréquences (PLL), et de modulateurs IQ(Test d'EVM). Une faible surface occupée et une très faible consommation sont mises en évidence pour une large gamme de puissance de signaux d'entrée RF. Les vérifications expérimentales montrent des dynamiques d'au moins 21 dB entre 25 MHz et 5 GHz avec les solutions BIST proposées. Une réduction d'un facteur au moins égal à 5 en termes de temps effectif de test et vérification est démontrée en comparaison avec les solutions classiques BIST.